探索Flash測試儀的發(fā)展歷史

閃光燈測試儀是一種快速的圖像測量儀器，因此也稱為一鍵式圖像測量儀器。今天，我們將與您分享Flash測試儀（成像儀）的開發(fā)歷史。

VX3000系列閃光測試儀

在1970年代后期，特別是自大衛(wèi)·馬爾（David Marr）教授建立“計算視覺”理論框架以來閃測儀，圖像處理技術(shù)和圖像傳感器得到了飛速發(fā)展。隨著坐標(biāo)測量技術(shù)的發(fā)展和成熟，在基于光學(xué)比較的光學(xué)測量領(lǐng)域，坐標(biāo)測量方法的開發(fā)和應(yīng)用取得了更大的進(jìn)步。

1977年，美國的View Engineering公司發(fā)明了世界上第一個由電動機(jī)驅(qū)動的RB-1圖像測量系統(tǒng)，以驅(qū)動XYZ軸（見圖1)，它是集成了視頻檢測和軟件測量功能的控制終端。自動圖像測量儀此外，Mechanical Technology的BoiceVista系統(tǒng)充分利用了坐標(biāo)測量機(jī)的優(yōu)勢，在坐標(biāo)測量機(jī)的探頭上集成了視頻圖像測量系統(tǒng)，該系統(tǒng)可以將測量數(shù)據(jù)與預(yù)先設(shè)定的標(biāo)稱值相結(jié)合。尺寸和公差進(jìn)行比較。

圖1 VE的RB-1圖像測量儀

圖2 ROI圖像探頭

這兩種儀器通過不同的方式借用了坐標(biāo)測量機(jī)的坐標(biāo)測量原理，并將被測物體的圖像投影到坐標(biāo)系中。它的測量平臺繼承了坐標(biāo)測量機(jī)的形式，但其探頭類似于光學(xué)投影儀。這些儀器的出現(xiàn)開辟了重要的測量儀器行業(yè)，即圖像測量儀器行業(yè)。在1980年代初期，圖像測量技術(shù)有了重要的發(fā)展。 1981年，ROI公司開發(fā)了一種光學(xué)成像探頭（請參見圖2)），該探頭可以代替坐標(biāo)測量機(jī)上的接觸式探頭進(jìn)行非接觸式測量。從那時起，這種光學(xué)附件已成為成像設(shè)備的基本組件之一。在1980年代中期，市場上出現(xiàn)了帶有高倍率顯微鏡目鏡的圖像測量儀器。

1990年代，隨著CCD技術(shù)，計算機(jī)技術(shù)閃測儀，數(shù)字圖像處理技術(shù)，LED照明技術(shù)，DC / AC伺服驅(qū)動技術(shù)，圖像測量儀器產(chǎn)品的發(fā)展，取得了巨大的發(fā)展。更多的制造商進(jìn)入了圖像測量儀器產(chǎn)品市場，共同促進(jìn)了圖像測量儀器產(chǎn)品的發(fā)展。自2000年以來，我國在該領(lǐng)域的技術(shù)水平不斷提高，有關(guān)圖像測量技術(shù)研究的文獻(xiàn)也不斷涌現(xiàn)。國內(nèi)企業(yè)開發(fā)的圖像測量儀器的生產(chǎn)規(guī)模，品種和質(zhì)量也在不斷提高和發(fā)展。 2009年，我國制定了國家標(biāo)準(zhǔn)GB / T24762-2009：產(chǎn)品幾何技術(shù)指標(biāo)（GPS）圖像測量儀的驗收測試和復(fù)檢測試，適用于XY平面直角坐標(biāo)系的圖像測量儀，包括直角在坐標(biāo)系統(tǒng)的Z方向上具有定位或測量功能的圖像測量儀器。

值得一提的是，深圳市中圖儀器有限公司是由一群有志于振興我國精密測量行業(yè)的學(xué)生創(chuàng)立的，并在學(xué)習(xí)和借鑒國外優(yōu)秀產(chǎn)品的基礎(chǔ)上發(fā)展創(chuàng)新。本身的特點和優(yōu)勢。作為圖像儀器國家標(biāo)準(zhǔn)的起草單位，中國圖形在精密測量領(lǐng)域已經(jīng)工作了十多年。跟隨世界先進(jìn)測量技術(shù)的發(fā)展趨勢，中國圖形儀器公司推出了VX3000系列閃光測量儀（一鍵式圖像測量儀）。

成像儀器國家標(biāo)準(zhǔn)起草單位

VX3000系列閃光燈測試儀采用雙遠(yuǎn)心高分辨率光學(xué)透鏡，結(jié)合高精度圖像分析算法，并結(jié)合了一鍵式閃光燈測試原理。在CNC模式下，只需按開始鍵，儀器即可根據(jù)工件的形狀自動定位測量對象，匹配模板，進(jìn)行測量評估并生成報告，真正實現(xiàn)一鍵式快速準(zhǔn)確的測量。

VX3000系列閃光測試儀廣泛用于精密螺絲，精密彈簧，齒輪，手機(jī)外殼，手機(jī)玻璃和精密五金配件等小型產(chǎn)品和零件的快速批量測量。