干貨：HDDL電纜故障測試儀介紹（閃測儀）脈沖高壓閃絡(luò)測試方法（impact flash method）

發(fā)布日期： 2021-09-23 點擊： 765

HDDL電纜故障測試儀（閃測儀）脈沖高壓閃絡(luò)測試方法（Impact Flash Method）介紹

1 Flash方法的基本原理

閃絡(luò)法適用于測試高阻漏電故障，其他類型的高低阻故障也可用閃絡(luò)法測試。測試方法是通過球隙對電纜施加脈沖電壓，使故障點通過并放電，并產(chǎn)生反射電壓（或電流）。儀器記錄這一瞬間狀態(tài)的過程，并通過波形分析確定故障點的位置。它是測量高阻和閃絡(luò)故障的主要方法。同樣的采樣方式也分為電壓采樣和電流采樣。當(dāng)然細(xì)分也可以分為高端和低端電壓采樣、電感和電阻采樣、起止采樣。由于低端電流采樣連接簡單，

2 電流采樣閃光法

閃爍法的操作方法如下：開機(jī)（上電復(fù)位）→復(fù)位（主菜單）→鍵1（工作選擇菜單）→鍵3（閃爍1）。根據(jù)作業(yè)選擇菜單的提示閃測儀，閃光分為：閃光有兩種方法：1和閃光2。其中閃光1為正脈沖觸發(fā)方式（如電流采樣），閃光2為負(fù)脈沖觸發(fā)方式（如高端電壓采樣），根據(jù)推薦選擇當(dāng)前采樣方式，按3進(jìn)入flash Flash 1工作模式。

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進(jìn)入flash后，按照屏幕上的接線圖連接接線和采樣器，如圖13所示。

圖13：flash-flash法電流采樣接線圖

圖13示意性說明：T1.3kVA/0.22kV穩(wěn)壓器

T2.3kVA/50kV 交直流高壓變壓器

D、高壓整流硅堆，大于150kV/0.2A

C、高壓脈沖電容器，容量1～8μF，耐壓大于10kV

五、電壓表

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B、電流采樣盒（配套附件）

J. 高壓球間隙（可選配件）

除電流采樣器B外，以上設(shè)備均為外接設(shè)備，可

使用如圖13所示的單獨的高壓測試設(shè)備，或集成的高壓電源（注意，測試前必須將高壓放電棒連接到高壓地線）。

根據(jù)接線圖完成連接后，按“Speed”鍵選擇傳輸速度或重新輸入速度值。將增益調(diào)節(jié)旋鈕旋至1/3左右，然后按下“采樣”鍵，儀器進(jìn)入等待采樣狀態(tài)。

調(diào)整球間隙和“增益”旋鈕后，再通電對故障電纜進(jìn)行升壓。華鼎電源電壓上升到一定值，故障點發(fā)生閃絡(luò)放電，儀器記錄波形，可根據(jù)波形大小重新調(diào)整輸入幅值，重復(fù)采樣，閃絡(luò)測試波形如圖14所示：

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波形特征分析如下：第一個小正脈沖為球隙斷路且故障點未放電時電容器向電纜放電的電流脈沖（輸入幅值為小或儀器靈敏度低）一個大的正脈沖是故障被擊穿后形成的短路電流脈沖，其次是由放電電流脈沖形成的第一、第二等多次反射電流脈沖，由于衰減閃測儀，幅度逐漸減小。由于故障特性的差異以及電容電壓和引線電感的存在，在反射正脈沖的前沿出現(xiàn)負(fù)反沖。在計算故障距離時，起點是第一個正放電脈沖的前沿，終點是第一個反射正脈沖之前的那個。負(fù)脈沖前沿。（發(fā)射脈沖為正脈沖，反射脈沖也是正脈沖但前沿有負(fù)后坐力。由于故障性質(zhì)等原因，負(fù)后坐力大小不同，但它遠(yuǎn)小于正脈沖的幅度）

設(shè)置光標(biāo)時，起點光標(biāo)選擇在正脈沖上升沿與基線的交點處，結(jié)束光標(biāo)選擇在負(fù)反沖下降沿與基線的交點處。如果沒有負(fù)脈沖，將結(jié)束光標(biāo)設(shè)置在反射脈沖的上升沿與基線的交點處，故障顯示距離將增加10%左右。固定點時，應(yīng)壓縮粗測距離以確定參考點的位置。

3 高壓閃絡(luò)測試波形

（測試開始時1）失敗的波形如圖15所示。

圖15 測試開始時的故障波形

（2）中段故障波形如圖16所示。

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