什么是ATE自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備？
ATE是“自動(dòng)測(cè)試設(shè)備”的英文縮寫，它是一種通過計(jì)算機(jī)控制來測(cè)試設(shè)備，電路板和子系統(tǒng)的設(shè)備。計(jì)算機(jī)編程可以代替體力勞動(dòng)，并自動(dòng)完成測(cè)試程序。
ATE始于1960年代初期的Fairchild。當(dāng)時(shí)，飛兆半導(dǎo)體生產(chǎn)門電路器件（例如14引腳雙列直插式NAND門IC）和簡(jiǎn)單的模擬集成電路設(shè)備（例如6引腳雙列直插式運(yùn)算放大器）。當(dāng)時(shí)，這是設(shè)備批量生產(chǎn)測(cè)試中的一個(gè)大問題。飛兆半導(dǎo)體開發(fā)了計(jì)算機(jī)控制的測(cè)試設(shè)備，例如用于簡(jiǎn)單模擬設(shè)備測(cè)試的5000C和用于簡(jiǎn)單柵極電路設(shè)備測(cè)試的Sentry 200。兩臺(tái)機(jī)器均由飛兆半導(dǎo)體獨(dú)立開發(fā)的計(jì)算機(jī)FST2控制。 FST2是一臺(tái)簡(jiǎn)單的24位10MHz計(jì)算機(jī)。
在1970年代初，設(shè)備開發(fā)從小型集成電路過渡到中型集成電路，并在1980年代初從大型集成電路過渡到超大型集成電路。對(duì)于設(shè)備制造商而言，計(jì)算機(jī)控制的測(cè)試系統(tǒng)已成為此時(shí)的主要測(cè)試設(shè)備。 Fairchild已開發(fā)了用于數(shù)字設(shè)備測(cè)試的Sentry 400，Sentry 600，Sentry 7，Sentry 8測(cè)試系統(tǒng)。
1980年代中期，成功開發(fā)了門陣列器件，該測(cè)試需要256個(gè)引腳，速度高于40MHz。
為響應(yīng)這一需求，飛兆半導(dǎo)體試圖開發(fā)Sentry 50，但失敗了。飛兆半導(dǎo)體將其ATE部門出售給了斯倫貝謝，并成為昆山威伯特精密設(shè)備有限公司。在Fairchild將測(cè)試系統(tǒng)出售給Schlumberger之后，許多專家離開Fairchild加入Genrad，并建立了Genrad West Coast Systems。 GR16和GR18數(shù)字測(cè)試系統(tǒng)誕生于此。這些新的測(cè)試系統(tǒng)針對(duì)每個(gè)引腳具有獨(dú)立的測(cè)試資源，最多144個(gè)引腳。不久，這些工程師離開了Ganrad，建立了Trillium測(cè)試系統(tǒng)，并將其出售給LTX。然后，這些工程師離開了LTX，其中一些加入了Credence，另一些則加入了其他ATE公司。
在同一時(shí)期，Teradyne的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備主導(dǎo)了模擬測(cè)試和內(nèi)存測(cè)試。在1990年代初期，英特爾成功開發(fā)了高速，高引腳數(shù)的單片處理器單元（MPU），然后開發(fā)了高速，高引腳數(shù)的ATE。多媒體設(shè)備的出現(xiàn)使ATE變得更加復(fù)雜，需要同時(shí)測(cè)試數(shù)字電路，模擬電路和存儲(chǔ)電路的功能。 SoC測(cè)試系統(tǒng)應(yīng)運(yùn)而生。
當(dāng)前自動(dòng)測(cè)量設(shè)備，設(shè)備速度已達(dá)到1.6GHz，引腳數(shù)已達(dá)到1024，并且所有電路都集成在單個(gè)芯片中。因此，需要進(jìn)行真正的系統(tǒng)級(jí)芯片測(cè)試。
ATE可以由一組具有一定存儲(chǔ)深度的通道，一系列時(shí)序發(fā)生器和多個(gè)電源組成。這些資源由負(fù)載板驅(qū)動(dòng)到芯片插座上的芯片引腳。
ATE可以分為以下幾種類型：
*數(shù)字測(cè)試系統(tǒng)-共享資源測(cè)試系統(tǒng)，每個(gè)引腳具有獨(dú)立測(cè)試資源的測(cè)試系統(tǒng)。它用于表征和測(cè)試集成電路的邏輯功能。例如Colliden的SC312和Quartet。
*線性設(shè)備測(cè)試系統(tǒng)-用于測(cè)試線性集成電路的測(cè)試系統(tǒng)。
*模擬測(cè)試系統(tǒng)，用于表征和測(cè)試集成電路的模擬功能。例如Colliden的ASL系列。
*內(nèi)存測(cè)試系統(tǒng)-DRAM測(cè)試系統(tǒng)，閃存測(cè)試系統(tǒng)。這些類型的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備用于驗(yàn)證內(nèi)存芯片。例如Credence的Personal Kalos和Kalos系列，Agilent的Versatest系列和Advantest的T5593。 *板載測(cè)試系統(tǒng)板載測(cè)試用于測(cè)試整個(gè)印刷電路板，而不是單個(gè)集成電路。例如Teradyne的1800。
*混合信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)-這種類型的系統(tǒng)資源用于測(cè)試集成電路的模擬和數(shù)字功能。例如Colliden的四重奏系列。
* RF測(cè)試系統(tǒng)-用于測(cè)試射頻集成電路。例如Colliden的ASL 3000RF和SZ-Falcon。
* SOC測(cè)試系統(tǒng)-通常是昂貴的混合信號(hào)集成電路測(cè)試系統(tǒng)，用于測(cè)試超大規(guī)模集成電路（VLSI）芯片；而且這種超大規(guī)模集成電路（VLSI）芯片比傳統(tǒng)芯片集成度更高。混合信號(hào)芯片要高得多。例如Credton的Octet系列，Agilent的93000系列和Advantest的T6673。
ATE的開發(fā)從簡(jiǎn)單的器件，低引腳數(shù)，低速測(cè)試系統(tǒng)（10 MHz，64引腳）到中等數(shù)量的引腳，中速測(cè)試系統(tǒng)（40 MHz，256引腳）到高引腳數(shù)，高速（超過100 MHz，1024引腳），最后過渡到當(dāng)前的SoC測(cè)試系統(tǒng)（1024引腳，超過400 MHz，并具有仿真，內(nèi)存測(cè)試功能）。
未來的測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試速度將超過1.6GHz，定時(shí)精度將在幾百納秒的范圍內(nèi)，并且數(shù)字，模擬，存儲(chǔ)器和RF測(cè)試功能將集成到測(cè)試系統(tǒng)中。
這種測(cè)試系統(tǒng)的成本非常高，因此需要使用一個(gè)或多個(gè)測(cè)試臺(tái)進(jìn)行并行設(shè)備測(cè)試。為了降低測(cè)試成本，將在芯片上增加一個(gè)自測(cè)電路。同時(shí)，出于降低測(cè)試系統(tǒng)成本的考慮，模塊化測(cè)試系統(tǒng)將取代通用測(cè)試系統(tǒng)。
ATE是自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的縮寫。根據(jù)客戶的測(cè)試要求，圖紙和參考計(jì)劃，采用基于VB，VC開發(fā)平臺(tái)的MCU，PLC，PC，并使用TestStand＆LabVIEW和JTAG /邊界掃描來開發(fā)和設(shè)計(jì)各種類型的自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備。
ATE的分類
1個(gè)PCBA自動(dòng)化測(cè)試
由數(shù)字萬用表，可編程電源，DAQ卡，單片機(jī)，繼電器，PLC，氣缸，夾具等組成的電信號(hào)自動(dòng)采集系統(tǒng)，廣泛用于ICT，F(xiàn)CT等測(cè)試設(shè)備。軟件部分由NI LabVIEW編寫，可自動(dòng)按順序收集和確定PASS / FAIL，自動(dòng)生成測(cè)試報(bào)告并上傳數(shù)據(jù)庫(kù)。
2目視檢查
基于高分辨率工業(yè)CCD和NI Vision的視覺測(cè)試系統(tǒng)用于焊點(diǎn)識(shí)別，尺寸測(cè)量，角度測(cè)量，字符識(shí)別等。它采用雙峰積分方法和二進(jìn)制方法來處理圖片，使用幾何工具測(cè)量尺寸，并使用特征碼識(shí)別和對(duì)比圖片，具有很高的準(zhǔn)確性。
3個(gè)LED屏幕測(cè)試
黑白顯示測(cè)試
RGB顯示測(cè)試
彩色顯示測(cè)試
灰色顯示測(cè)試
4個(gè)LCD專業(yè)測(cè)試
基于光纖和顏色傳感器的LED測(cè)試系統(tǒng)可以測(cè)試RGB，發(fā)光強(qiáng)度，色坐標(biāo)，色溫，波長(zhǎng)等。支持多通道高速同時(shí)測(cè)試。
5次IC測(cè)試
支持I2C，SPI和其他通信模式的
IC可以讀取校驗(yàn)和并與刻錄的文件進(jìn)行比較。也可以使用邊界掃描測(cè)試。對(duì)于TDO，TDI自動(dòng)測(cè)量設(shè)備，TMS，TCK和GND，添加VDD和接地以測(cè)試IC每個(gè)引腳的質(zhì)量。
6項(xiàng)汽車電子測(cè)試
自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)已廣泛應(yīng)用于汽車電子中，例如通過專業(yè)的LED分析儀檢測(cè)汽車LED燈的顏色和亮度；通過RS232驅(qū)動(dòng)基板以接收各種RF信號(hào)，并使用示波器檢測(cè)倒車?yán)走_(dá)和汽車鎖以及其他無線設(shè)備；并通過數(shù)字萬用表測(cè)量電壓信號(hào)和暗電流，對(duì)地阻抗等。
7手機(jī)測(cè)試
GPS測(cè)試
藍(lán)牙測(cè)試
音頻測(cè)試
LCD測(cè)試
相機(jī)測(cè)試
鍵盤測(cè)試
8個(gè)其他
老化測(cè)試
烤箱測(cè)試
電視測(cè)試
冰箱測(cè)試
空調(diào)測(cè)試
MP3測(cè)試
揚(yáng)聲器測(cè)試
醫(yī)療設(shè)備測(cè)試
