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一種自動測量各種齒輪的Fr和MDK的制造方法

發(fā)布日期: 2020-11-27 點擊: 991

自動檢具

一種自動測量各種齒輪的Fr和MDK的制造方法


該專利屬于齒輪檢查工具,尤其涉及一種用于自動測量各種齒輪的Fr和MDK的檢查工具。

背景技術:

在生產通用精密設備(例如汽車變速箱)時,需要使用高精度齒輪進行變速。齒輪各種參數(shù)的嚴格控制決定了齒輪箱的工作靈敏度,準確性和使用壽命。因此,在生產高精度齒輪和組裝精密儀器設備時,必須使用量規(guī)來嚴格測量齒輪的關鍵參數(shù)。

齒輪的徑向跳動(Fr)和球距(MDK)是齒輪的關鍵參數(shù)之一。這兩個參數(shù)反映了齒輪在徑向方向上的誤差,并且對齒輪的傳動精度有較大的影響。因此,測量這兩個參數(shù)對于齒輪生產和機械裝配至關重要。

當前測量齒輪Fr和MDK,例如授權公告CN104515493B提供的自動徑向跳動測量裝置。該裝置的結構非常復雜,只能測量Fr,其功能也比較簡單。它使用測量傳感器。由于污染物的干擾,測量精度較差。

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技術實現(xiàn)要素:

鑒于上述缺點,該專利提供了一種用于自動測量各種齒輪的Fr和MDK的量規(guī),這是通過以下技術解決方案實現(xiàn)的。

一種用于自動測量各種齒輪的Fr和MDK的檢查工具,其特征在于包括一個底盤,一個齒輪表,兩個轉塔和一個控制組件。齒輪表位于底部表的中間。齒輪臺兩側的底盤對稱地設有滑槽,在滑槽中設置有滑動裝置。齒輪臺的齒輪固定裝置與電動機通過第一旋轉軸依次連接。每個轉塔包括轉臺,第二轉軸,探頭,定位傳感器,轉塔頂部設有定位傳感器,轉臺側面與探頭連接,轉臺垂直連接滑架通過第二旋轉軸,因此,在滑道裝置的作用下,轉塔在齒輪臺方向上來回滑動??刂平M件位于底部平臺中,并且控制組件電連接至電動機和滑動裝置??刂平M件與外部計算機設備連接。

使用檢查工具時,將要測試的齒輪固定在齒輪臺上,在外部計算機設備上輸入要測試的齒輪的類型和參數(shù),然后旋轉兩個轉塔,直到探頭與齒槽對齊為止待測齒輪滑動,并且將探針插入齒槽,兩個轉塔中的任一個測得Fr,兩個轉塔的測頭一起測到MDK。然后,轉塔滑移,探頭移出齒槽,齒輪被轉移到下一個齒槽,并再次測量第二組Fr和MDK。重復多次后計算出最終數(shù)據(jù);因為要測試的齒輪中可能有毛刺或油漬,所以探針可以刺入齒槽。有效地避免了傳感器的誤差,提高了測量精度。設備自動輸入齒輪參數(shù)后的過程,節(jié)省了人工。

優(yōu)選地,多個探針均勻地連接到轉盤的側面,用于測量不同齒輪的Fr和MDK。目的是使檢查工具能夠測量不同規(guī)格的普通齒輪的Fr和MDK,并且通過旋轉轉盤自動完成切換過程,而無需人工操作,從而進一步節(jié)省了人工。

優(yōu)選地,電動升降裝置連接到第一旋轉軸的下部,并且電動升降裝置與控制組件電連接。目的是能夠在不拆卸齒輪組的情況下進一步測量重疊齒輪組中每個齒輪的Fr和MDK,從而減少測量步驟并提高檢查工具的適應性。此外,它還可以微調探針和齒槽高度,提高測量精度。

優(yōu)選的是,在第二旋轉軸的外側設置有套筒,在轉臺與套筒的接觸點的與探針的下部對應的接觸點設有鎖定槽。目的是在轉盤旋轉時協(xié)助特定探針旋轉到與齒槽相對應的位置自動檢具,以確保測量精度。

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優(yōu)選地,滑動裝置以齒輪和齒條組件,螺桿滑軌或滾珠軸承的形式來回滑動。這樣做的目的是,使用這些方法的滑動裝置可以精確地控制滑動距離,然后控制探針進入齒槽的深度,從而可以防止穿透力不足并避免由于過度穿透而損壞側頭。

優(yōu)選地,齒輪固定裝置采用固定螺母,卡簧或鍵槽來固定齒輪。

優(yōu)選地,在底部平臺上方提供透明的密封保護蓋。目的是防止室內的其他雜物和污垢污染儀表的組件,延長使用壽命,并確保測量精度。

與現(xiàn)有技術相比,該專利的有益效果在于,該專利提供的檢查工具可以自動測量各種齒輪的Fr和MDK。通過在外部計算機上輸入必要的參數(shù),可以完成自動測量。 雙轉盤設計可以同時測量Fr和MDK,節(jié)省了測量時間,減少了設備采購和維護成本;直接將探針探入齒槽進行測量,大大提高了測量精度。檢查夾具的結構簡單,易于操作。

圖紙說明

為了清楚地說明獲得本專利實施例的現(xiàn)有技術中的技術方案,下面將簡要介紹描述現(xiàn)有技術實施例所需的附圖。顯然,以下描述中的附圖僅是該專利的一些實施例。對于本領域普通技術人員而言,無需創(chuàng)造性勞動,即可基于這些附圖獲得其他附圖。

圖1是示例1的檢查夾具的結構示意圖;

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圖中的標簽如下:

1、底表; 10 1、滑槽; 102、螺絲滑塊;2、齒輪表; 20 1、固定螺母;第一軸202、; 203、電動起重裝置; 204、電機;3、炮塔; 30 1、轉盤; 302、第二軸; 303、探針; 304、定位傳感器; 305、卡插槽; 306、頂蓋;4、控制組件;5、透明密封的防護罩。

具體的實現(xiàn)方法

下面結合附圖,將對本專利的每個實施例的技術方案進行清楚,完整的描述。顯然,所描述的實施例僅是本專利實施例的一部分,而不是全部?;诒緦@膶嵤├?,本領域普通技術人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例,都屬于本專利保護的范圍。

在此專利的說明中,應注意術語“中心”,“上部”,“下部”,“左側”,“右側”,“垂直”,“水平”,“內部”,“由“外部”和“頂部”指示的取向或位置關系是基于附圖中所示的取向或位置關系,并且僅是為了方便描述專利和簡化描述,并不表示或暗示因此,不能將其理解為對本專利的限制,此外,術語“第一”,“第二”和“第三”僅用于描述目的,不能被理解。表示或暗示相對重要性。

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在本專利的描述中,應注意,除非另有說明和限制,否則應從廣義上理解術語“安裝”,“連接”,“連接”和“連接”。例如,它們可以是固定的。連接也可以是可分離的連接或整體連接;它可以是機械連接或電氣連接;它可以是直接連接,也可以是通過中間介質的間接連接,并且可以是兩個組件之間的內部通信。應當注意,所有附圖均為示例性表示。對于本領域普通技術人員而言,在特定情況下可以理解本專利中上述術語的具體含義。

下面將通過具體的實施示例并結合附圖進一步詳細描述該專利。

示例1

如圖1-3所示,它是一種自動測量包括基礎工作臺1在內的各種齒輪的Fr和MDK的量具;斜道101;螺絲滑座102;齒輪表2;固定螺母201;第一旋轉軸202;電動升降裝置203;馬達204;炮塔3;轉盤301;第二旋轉軸302;探頭303;定位傳感器304;鎖定槽305;頂蓋306;控制組件4;

本實施例提供了一種用于自動測量各種齒輪的Fr和MDK的量規(guī),其特征在于它包括底表1、,齒輪表2、和兩個轉塔3、。 ]控制組件4、的透明密封保護罩5;透明密封保護蓋5位于底臺1,上方的齒輪臺2,底臺1的中間,齒輪臺2的兩個之間?;瑒硬?01對稱地設置在側面的底平臺上,并且螺釘在滑槽101上設有滑軌102。固定螺母201和齒輪臺2的電動機204穿過。第一旋轉軸202順序連接,電動升降裝置203連接到第一旋轉軸202的下部,電動升降裝置203電氣連接至控制組件4;每個轉塔3包括轉臺30 1、第二轉軸302、探針303、定位傳感器304、卡槽305、頂蓋306,轉塔3的頂部提供了定位傳感器304。轉臺301的側面與多個探針303均勻地連接。轉臺301通過第二旋轉軸302垂直地連接至絲杠102。絲杠軌道102在齒輪方向上來回滑動。平臺2在絲杠滑塊102的作用下,鎖定槽305設置在轉臺301與第二旋轉軸302相交且對應于探頭303的位置??刂撇考?位于底部平臺1中,控制部件4電連接至電動機204、和絲杠102,并且控制部件4連接至外部計算機設備。

使用檢查工具時,將要測試的齒輪固定在齒輪臺上,蓋上透明的密封保護蓋,并在外部計算機設備上輸入要測試的齒輪的類型和參數(shù)。定位傳感器和卡插槽,兩個轉塔自動旋轉以選擇相應的探針。第一轉軸和電動升降裝置微調齒輪的高度,以確保探針與齒槽精確對準;刀架沿著螺絲滑軌向齒輪滑動,直到探針穿透到齒輪齒槽中的指定位置,兩個刀架中的任何探針都可以測量一組Fr,而兩個刀架中的探針可以測量一組MDK在一起;然后,轉塔向后滑動,直到探針從齒槽中移出,齒輪箱旋轉到下一個齒槽,然后重復上述過程以測量第二組Fr和MDK。重復測量后,將獲得多組數(shù)據(jù)。然后根據(jù)外部計算機設備預設的公式計算最終的Fr和MDK數(shù)據(jù)。如果測量是齒輪組重疊,則將齒輪組中每個齒輪的參數(shù)輸入到外部計算機設備中。探針測量完要測量的第一個齒輪后,探針滑出,轉盤旋轉到要測量的第二個齒輪。齒輪所需的測量頭,電動升降裝置調節(jié)齒輪的高度,轉塔開始滑動,然后按照相同的步驟測量要測量的第二檔的Fr和MDK。如果要測量多個檔,則步驟類似。

在本實施例中,絲杠,電動升降裝置,定位傳感器和鎖緊槽共同作用,有效地保證了探針和齒槽的精度,測量結果小自動檢具,精度非常高。兩個轉塔的探針測量Fr和MDK,完成了檢驗工具功能的初步集成,減少了檢驗工具的數(shù)量,并降低了檢驗工具的購買和維護成本。

以上示例和比較示例詳細描述了該專利的實現(xiàn),但是該專利不限于以上實施例中的具體細節(jié)。在本專利的權利要求書和技術構思的范圍內,可以對本專利的技術方案進行各種簡單的修改和變化,這些簡單的修改都屬于本專利的保護范圍。

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