未來(lái)就在這里：Teledyne e2v的四通道ADC是5G NRATE和現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試

摘要

在過(guò)去的20年中，無(wú)線技術(shù)已從3G迅速發(fā)展到4G，如今已進(jìn)入5G時(shí)代。開發(fā)過(guò)程中一直存在一個(gè)技術(shù)問(wèn)題，即高頻設(shè)備的自動(dòng)校準(zhǔn)測(cè)試。

RF ATE和現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試系統(tǒng)面臨的最困難挑戰(zhàn)是校準(zhǔn)，可重復(fù)性和測(cè)試結(jié)果的相關(guān)性。未來(lái)無(wú)線技術(shù)的發(fā)展需要5G NR設(shè)備。 Teledyne e2v的四通道多輸入端口ADC利用非并行的片上高頻交叉點(diǎn)開關(guān)輸入電路技術(shù)，使用戶可以在RF ATE和/或現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試環(huán)境中使用自動(dòng)校準(zhǔn)和測(cè)量技術(shù)。

Teledyne e2v的EV12AQ605和EV10AQ190（具有交叉點(diǎn)開關(guān)輸入電路技術(shù)的12位和10位四通道ADC）使RF ATE和現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試設(shè)備的開發(fā)能夠?qū)Ｗ⒂趩瓮ǖ篮投嗤ǖ雷詣?dòng)校準(zhǔn)。端口5G NR設(shè)備測(cè)試和測(cè)量。

兩代人之間的問(wèn)題

5G是通信行業(yè)的第五代蜂窩網(wǎng)絡(luò)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)，自2019年以來(lái)已在全球范圍內(nèi)應(yīng)用。5G是當(dāng)今大多數(shù)手機(jī)使用的4G網(wǎng)絡(luò)的后繼產(chǎn)品，具有更大的帶寬和更快的下載速度。至10 Gbit / s。由于帶寬的增加，當(dāng)前的4G手機(jī)將無(wú)法使用新網(wǎng)絡(luò)。這個(gè)新網(wǎng)絡(luò)需要啟用5G的無(wú)線設(shè)備。另一方面，5G還需要與所有4G網(wǎng)絡(luò)要求（例如帶寬）兼容。因此，為了確保廣泛的服務(wù)范圍，5G網(wǎng)絡(luò)將在低頻段，中頻段和高頻段三個(gè)頻段工作。

5G低頻段（也稱為1 GHz以下）使用類似于4G（600-700 MHz）的頻率范圍，可以支持略高于4G（30-250 Mbit / s）的下載速度。

中頻帶5G（也稱為6 GHz以下）的頻率范圍是2.5-3.7 GHz（下載速度為100-900 Mbit / s）。這項(xiàng)服務(wù)將在2020年覆蓋大多數(shù)城市地區(qū)。

高頻段5G（也稱為毫米波）使用26、28或39 GHz的頻率。上述5G頻帶均已在2020年進(jìn)行了測(cè)試，新的中頻帶（6 GHz以下）預(yù)計(jì)將在未來(lái)幾個(gè)月或幾年內(nèi)實(shí)施（目前有50多個(gè)5G NR中頻帶）。在世界范圍內(nèi)使用）。

2018年，一個(gè)5G行業(yè)聯(lián)合標(biāo)準(zhǔn)（第三代合作伙伴計(jì)劃（3GPP））定義了一個(gè)使用5G NR（5G New Radio）軟件的系統(tǒng)。 5G最終將支持每平方公里約100萬(wàn)個(gè)設(shè)備，而4G現(xiàn)在支持每平方公里約10萬(wàn)個(gè)設(shè)備。當(dāng)然，5G無(wú)線設(shè)備將與4G LTE功能兼容，因?yàn)樾碌?G網(wǎng)絡(luò)將使用現(xiàn)有的4G網(wǎng)絡(luò)來(lái)初步實(shí)現(xiàn)手機(jī)的連接。關(guān)鍵是未來(lái)的5G設(shè)備不僅需要滿足不斷發(fā)展的5G性能要求，而且還需要與以前的2G / 3G / 4G / 5G（GSM / EDGE / CDMA / UMTS / WCDMA / LTE / LTEA / TD -SCDMA / TD- LTE等）。

因此，未來(lái)的5G NR ATE系統(tǒng)需要使用可靠且可重復(fù)的方法來(lái)在較寬的頻率范圍內(nèi)測(cè)試設(shè)備的性能。此方法需要支持自動(dòng)校準(zhǔn)和測(cè)量，以確保結(jié)果相互關(guān)聯(lián)并減少測(cè)試誤差。

由錯(cuò)誤引起的麻煩

在參數(shù)化RF ATE測(cè)量環(huán)境中DUT（被測(cè)設(shè)備）的外部不確定性/誤差，要求一種測(cè)量方法能夠準(zhǔn)確可靠地測(cè)量DUT /產(chǎn)品的性能，從而提高測(cè)量精度。測(cè)試和量化測(cè)量不確定度是獲得理想測(cè)量結(jié)果的關(guān)鍵。

通常來(lái)說(shuō)，測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性通常是有問(wèn)題的，因?yàn)樗袦y(cè)量都受到物理和電氣環(huán)境的影響，并且受到所使用的源/測(cè)試設(shè)備/儀器的限制。因此，測(cè)量值永遠(yuǎn)不會(huì)等于被測(cè)DUT /性能的真實(shí)值。測(cè)量值和真實(shí)性能值之間的差異稱為誤差。根據(jù)錯(cuò)誤的來(lái)源（在DUT之外），這些錯(cuò)誤可以大致分為隨機(jī)錯(cuò)誤和系統(tǒng)錯(cuò)誤。隨機(jī)錯(cuò)誤是隨機(jī)的。它們來(lái)自測(cè)試設(shè)備和測(cè)試環(huán)境中不可預(yù)測(cè)的時(shí)間或空間變化。通常很難跟蹤和量化隨機(jī)誤差如何影響DUT測(cè)量結(jié)果。隨機(jī)錯(cuò)誤主要是由RF ATE環(huán)境的變化引起的，例如溫度變化，連接變化，儀器噪聲和失真以及連接和電纜錯(cuò)誤。

系統(tǒng)錯(cuò)誤是可重復(fù)的錯(cuò)誤自動(dòng)測(cè)量設(shè)備，通常可以糾正，但不能完全消除。系統(tǒng)誤差只能降低到一定程度。校準(zhǔn)的概念通常是指在RFATE測(cè)試環(huán)境中對(duì)系統(tǒng)誤差的估計(jì)和校正。為了成功糾正系統(tǒng)錯(cuò)誤，通常需要經(jīng)過(guò)校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)或參考設(shè)備。該標(biāo)準(zhǔn)或參考設(shè)備應(yīng)能夠高精度地表示或再現(xiàn)特定的測(cè)量過(guò)程。校準(zhǔn)過(guò)程通常使用測(cè)量系統(tǒng)來(lái)測(cè)量/測(cè)試此標(biāo)準(zhǔn)/參考設(shè)備，并將測(cè)量結(jié)果存儲(chǔ)為原始數(shù)據(jù)。通過(guò)將該標(biāo)準(zhǔn)/參考設(shè)備的原始測(cè)量數(shù)據(jù)與已知值進(jìn)行比較，可以計(jì)算出系統(tǒng)誤差。然后使用該誤差的值來(lái)校正測(cè)量結(jié)果。不幸的是，對(duì)于5G NR ATE測(cè)試設(shè)備，包括DIB（設(shè)備接口板），探針卡，電纜和連接件等，標(biāo)準(zhǔn)/參考設(shè)備具有各種高頻和測(cè)試條件，這使問(wèn)題變得非常復(fù)雜。校準(zhǔn)的另一種方法是定義參考平面。該參考平面是通過(guò)估算和校正測(cè)試系統(tǒng)環(huán)境的系統(tǒng)誤差而獲得的。不幸的是，參考平面環(huán)境無(wú)法糾正隨機(jī)誤差。當(dāng)前的RF / 5G NR ATE和現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試系統(tǒng)環(huán)境迫切需要一種使用自動(dòng)/校準(zhǔn)和測(cè)量技術(shù)為每個(gè)DUT創(chuàng)建參考平面的解決方案。

獨(dú)立設(shè)備的自動(dòng)校準(zhǔn)和測(cè)試測(cè)量

要在RF ATE環(huán)境中為每個(gè)DIB（設(shè)備接口板）/ DUT創(chuàng)建一個(gè)參考平面，您需要定義一個(gè)校準(zhǔn)過(guò)程（圖1a和1b）。校準(zhǔn)通常使用一組標(biāo)準(zhǔn)。理想情況下，此標(biāo)準(zhǔn)使用“黃金參考設(shè)備” DIB / DUT，并與通常的DIB / DUT測(cè)量（步驟2)）相比，累積誤差小于一半或四分之一（步驟1)）?？梢缘玫剑ú襟E1)，可以認(rèn)為標(biāo)準(zhǔn)的累積測(cè)量方法足以滿足實(shí)際的DIB / DUT測(cè)試（步驟2)。始終在不同的頻率，噪聲和電壓條件下保持RF ATE環(huán)境）最小的“金標(biāo)準(zhǔn)/參考設(shè)備”測(cè)量誤差是一項(xiàng)非常困難，耗時(shí)且昂貴的任務(wù)。

圖1b簡(jiǎn)化框圖：DIB / DUT的自動(dòng)測(cè)量

當(dāng)然，設(shè)備的互連和更改也會(huì)嚴(yán)重影響標(biāo)準(zhǔn)參考平面的創(chuàng)建和DIB / DUT的校準(zhǔn)（包括多設(shè)備接口板（DIB）異常，DIB / DUT觸點(diǎn)/設(shè)備的更改，電纜/連接器的阻抗） ，源/測(cè)量?jī)x器的更改等）?？紤]到以上內(nèi)容，5G NR設(shè)備的校準(zhǔn)過(guò)程需要使用標(biāo)準(zhǔn)的手動(dòng)測(cè)試方法創(chuàng)建參考平面（引入較大的隨機(jī)誤差），然后使用自動(dòng)測(cè)試方法消除系統(tǒng)誤差的來(lái)源。

圖2顯示了通用的6引腳（表面安裝封裝）5G NR低噪聲放大器（LNA）產(chǎn)品/ DUT（未連接至外圍設(shè)備）。該LNA的測(cè)試樣本需要在RF ATE環(huán)境中進(jìn)行測(cè)試。測(cè)試前需要校準(zhǔn)此環(huán)境以確定參考平面。用于LNA的典型RF ATE測(cè)試包括：

?工作頻率范圍（超過(guò)50個(gè)5G NR網(wǎng)絡(luò)頻帶）

?增益/插入損耗

?在頻率范圍內(nèi)獲得平坦度

?噪聲圖

?輸入/輸出回?fù)p

?輸入IP3

?輸出IP3

圖2通用6針5G NR LNA DUT（不連接外圍設(shè)備）

除了測(cè)試這種LNA設(shè)備外，實(shí)際的RF ATE環(huán)境還需要具有測(cè)試其他類型的5G NR型設(shè)備（耦合器，衰減器，濾波器，VGA等）的能力。因此，需要考慮多端口測(cè)試的情況。

圖3顯示了相同的通用6引腳（表面安裝封裝）5G NR低噪聲放大器（LNA）產(chǎn)品/ DUT，但具有正常工作所需的外部組件。這些設(shè)備盡可能靠近地安裝在DIB上。實(shí)際上，由于高頻激勵(lì)，圖3的測(cè)量和校準(zhǔn)比圖2復(fù)雜得多。 DUT和DIB之間的異常包括：

?衰減器失配和損耗誤差（需要阻抗匹配并改變DUT輸入/輸出電平）

?輸入和輸出之間的電感性能變化

?控制線和門驅(qū)動(dòng)器之間的交互變化

?接地回路

?電纜/連接阻抗

?每個(gè)測(cè)試模塊的測(cè)試系統(tǒng)連接的阻抗變化

如前所述，隨著信號(hào)鏈中的多個(gè)設(shè)備被添加到DUT，校準(zhǔn)問(wèn)題將變得更加復(fù)雜。隨著變量的增加，校準(zhǔn)和自動(dòng)測(cè)試誤差將成倍增加。

圖3通用6針5G NR LNA DUT / DIB（連接外圍設(shè)備）

因此，未來(lái)的5G NR ATE系統(tǒng)和現(xiàn)場(chǎng)電信測(cè)試設(shè)備需要具有在寬頻率范圍和不同測(cè)試條件下進(jìn)行可靠，可重復(fù)和關(guān)聯(lián)（考慮到上述誤差）測(cè)試的能力。它還需要一種自動(dòng)校準(zhǔn)技術(shù)，該技術(shù)不依賴手動(dòng)校準(zhǔn)來(lái)基于標(biāo)準(zhǔn)創(chuàng)建參考平面。圖4顯示了具有自動(dòng)校準(zhǔn)功能的5G NR RF ATE測(cè)量系統(tǒng)的簡(jiǎn)化/概念框圖，該系統(tǒng)可用于任何帶或不帶外設(shè)的DIB / DUT，無(wú)論是單端口還是多端口。

圖4概念框圖：5G NR RF ATE測(cè)量/測(cè)試系統(tǒng)的自動(dòng)校準(zhǔn)

為了確保對(duì)RF ATE系統(tǒng)進(jìn)行準(zhǔn)確，可靠和可重復(fù)的測(cè)試，測(cè)試工程師必須填補(bǔ)昂貴的測(cè)量?jī)x器面板上的高質(zhì)量連接器與DIB / DUT接口之間的空白。 DUT的電接口（探針卡或封裝適配器接口卡）通常集成在DIB內(nèi)，但很少與同類型的高質(zhì)量連接器匹配。源（到DUT）和接收器/測(cè)量設(shè)備（來(lái)自DUT）之間的大量電纜/連接器和DIB將引入大量的隨機(jī)和系統(tǒng)誤差。

為了補(bǔ)償這些誤差，簡(jiǎn)化了RF ATE測(cè)試配置（圖4)允許自動(dòng)校準(zhǔn)和測(cè)量DUT端口，而無(wú)需手動(dòng)校準(zhǔn)技術(shù)為每個(gè)獨(dú)立的DIB / DUT創(chuàng)建參考平面。圖4簡(jiǎn)單直接通過(guò)測(cè)量測(cè)試配置錯(cuò)誤，并在最終DUT測(cè)量值（原始測(cè)試測(cè)量值-校準(zhǔn)誤差測(cè)量值=最終DUT測(cè)量值）中糾正這些錯(cuò)誤，以使校準(zhǔn)/測(cè)試測(cè)量過(guò)程自動(dòng)化，具體的實(shí)現(xiàn)方法是：內(nèi)部分頻點(diǎn)開關(guān)（CPS）將自動(dòng)切換到“校準(zhǔn)誤差測(cè)量”模式，從而允許ADC測(cè)量RF吞吐量，其中包括以下誤差：

?直接RF天線/源噪聲和失真

?DUT的輸入回波損耗/衰減器誤差

?電源錯(cuò)誤

?接地錯(cuò)誤

?輔助源/驅(qū)動(dòng)器問(wèn)題（例如上面的控制端口示例）

?連接器和電纜錯(cuò)誤/變化

該測(cè)量結(jié)果存儲(chǔ)為校準(zhǔn)誤差測(cè)量值。然后，CPS自動(dòng)切換到“原始測(cè)試和測(cè)量”模式，ADC在DUT（連接的外圍設(shè)備）上執(zhí)行相同的測(cè)量，并將數(shù)據(jù)存儲(chǔ)為原始測(cè)試測(cè)量值。這兩個(gè)測(cè)量值由軟件處理以獲得自動(dòng)校準(zhǔn)/校正的最終測(cè)試和測(cè)量結(jié)果。內(nèi)部CPS允許RF ATE工程師通過(guò)一系列測(cè)試自動(dòng)重新配置DIB / DUT，而無(wú)需人工干預(yù)和重新校準(zhǔn)。同樣，如果DIB / DUT包含多個(gè)設(shè)備，則可以使用四通道ADC和四輸入交叉點(diǎn)開關(guān)（CPS）來(lái)實(shí)現(xiàn)多端口測(cè)量和自動(dòng)校準(zhǔn)/校正，這將在后面詳細(xì)介紹。

5G NR ATE DUT自動(dòng)校準(zhǔn)和測(cè)試測(cè)量

圖5和圖6描述了Teledyne e2v的四通道，多輸入端口和集成的非并行片上高頻交叉點(diǎn)開關(guān)（CPS）ADC 5G NR ATE自動(dòng)校準(zhǔn)以及測(cè)試和測(cè)量系統(tǒng)的使用自動(dòng)化解決方案。 Teledyne e2v的EV12AQ605和EV10AQ190（具有集成交叉點(diǎn)開關(guān)的12位和10位四通道ADC）使5G NR ATE和現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試設(shè)備能夠瞄準(zhǔn)單個(gè)通道（圖5、6和7)和多端口5G NR）自動(dòng)校準(zhǔn)測(cè)量測(cè)試的設(shè)備（請(qǐng)參見下文）。

CPS具有四種不同的模式（可以通過(guò)SPI控制自動(dòng)啟用）：

?1通道模式IN0輸入：四通道ADC交錯(cuò)進(jìn)入最高采樣率6.4 Gsps（4 x1.6 Gsps）

?1通道模式下的IN3輸入：與上面相同

?在2通道模式下，IN0輸入連接到ADC A和B，IN3連接到ADC C和D，每通道最高采樣率3.2 Gsps（2 x1.6 Gsps）

?4通道模式的IN0-IN3輸入連接到ADC A，B，C，D，并且每通道最高采樣率1.6 Gsps

此外，EV12AQ605的擴(kuò)展輸入帶寬超過(guò)6 GHz（EFPBW），從而可以直接采樣C波段（4-8 GHz）信號(hào)，而無(wú)需下變頻器將信號(hào)轉(zhuǎn)換為基帶（直接射頻采樣）。

圖5是自動(dòng)校準(zhǔn)測(cè)量的簡(jiǎn)化框圖。 CPS設(shè)置為1通道（IN0輸入）模式，ADC（A，B，C，D）測(cè)量DIB / DUT的RF吞吐量端口，并斷開DIB / DUT的RF輸出端子（也由CPS實(shí)現(xiàn)）。此“校準(zhǔn)誤差測(cè)量”對(duì)DIB / DUT（輸入）的組合誤差進(jìn)行采樣：

?直接RF天線/源噪聲和失真

?輸入回波損耗到DUT /衰減器/濾波器錯(cuò)誤

?電源和接地錯(cuò)誤

?來(lái)自DUT的輸入/回波損耗/接觸錯(cuò)誤

?DUT要求DIB中包含輔助源/驅(qū)動(dòng)器/設(shè)備的問(wèn)題

?連接器和電纜錯(cuò)誤/更改等

這些ADC的測(cè)量結(jié)果存儲(chǔ)為“校準(zhǔn)誤差測(cè)量值”。

圖5簡(jiǎn)化框圖：自動(dòng)校準(zhǔn)誤差測(cè)量

圖6簡(jiǎn)化框圖：自動(dòng)校準(zhǔn)原始測(cè)試結(jié)果

圖6是原始測(cè)試測(cè)量結(jié)果的簡(jiǎn)化框圖。獲得校準(zhǔn)誤差測(cè)量值后，CPS切換到1通道（IN3輸入）模式，ADC（A，B，C，D）測(cè)量DIB / DUT的RF輸出端口自動(dòng)測(cè)量設(shè)備，并斷開DIB / DUT的RF吞吐量端口。 （通過(guò)CPS實(shí)施）。此“原始測(cè)試度量”對(duì)DIB / DUT（輸入）/ DUT（輸出）的綜合性能和誤差進(jìn)行采樣，例如：

?先前校準(zhǔn)誤差測(cè)量中提到的誤差

?加上DUT RF輸出性能

ADC測(cè)量結(jié)果存儲(chǔ)為“原始測(cè)試測(cè)量值”。最終DUT測(cè)量值通過(guò)以下公式計(jì)算：原始測(cè)試測(cè)量值-校準(zhǔn)誤差測(cè)量值=最終DUT測(cè)量值。

圖7是同時(shí)進(jìn)行校準(zhǔn)誤差測(cè)量和原始測(cè)試測(cè)量的簡(jiǎn)化框圖。 CPS設(shè)置為2通道模式（IN0輸出連接到A和B，IN3輸出連接到C和D）。 2通道模式下的ADC（A，B）測(cè)量DIB / DUT的RF吞吐量端口，并且DIB / DUT的RF輸出也由ADC（C，D）測(cè)量。以3.2 Gsps的最大采樣率，可以同時(shí)測(cè)量“校準(zhǔn)誤差測(cè)量值”和“原始測(cè)試測(cè)量值”。同樣，可以通過(guò)以下公式計(jì)算出最終DUT測(cè)量值：原始測(cè)試測(cè)量值-校準(zhǔn)誤差測(cè)量值=最終DUT測(cè)量值。

圖7簡(jiǎn)化框圖：同時(shí)自動(dòng)執(zhí)行校準(zhǔn)誤差測(cè)量和原始測(cè)試測(cè)量

已安裝的電信設(shè)備5G NR ATE系統(tǒng)/現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試的自動(dòng)校準(zhǔn)

圖8是同時(shí)測(cè)量多端口DIB / DUT輸入/輸出以完成自動(dòng)校準(zhǔn)測(cè)量和原始測(cè)試測(cè)量過(guò)程的簡(jiǎn)化框圖。 CPS設(shè)置為4通道模式，每個(gè)獨(dú)立采樣的ADC通道支持1.6 Gsps的最大采樣率。多端口DIB / DUT也可以代表已安裝的電信系統(tǒng)的測(cè)試/測(cè)量點(diǎn)。在4通道模式下，ADC（A，B，C，D）同時(shí)測(cè)量DIB / DUT或現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試系統(tǒng)的RF吞吐量端口，端口1、端口2和RF輸出端口。此配置可以同時(shí)測(cè)量每個(gè)端口，并且該數(shù)據(jù)可以用作“校準(zhǔn)誤差測(cè)量”和/或“原始測(cè)試測(cè)量”。可以通過(guò)從原始測(cè)試測(cè)量值中減去端口校準(zhǔn)誤差來(lái)獲得最終測(cè)試測(cè)量值。

圖8簡(jiǎn)化框圖：同時(shí)進(jìn)行多端口自動(dòng)校準(zhǔn)誤差測(cè)量和原始測(cè)試測(cè)量

此外，EV12AQ605包含“多ADC鏈同步功能”，可以為這種多端口測(cè)試和測(cè)量帶來(lái)更大的設(shè)計(jì)靈活性。 4個(gè)ADC內(nèi)核的鏈同步功能（時(shí)鐘樹和數(shù)字復(fù)位）可以自動(dòng)調(diào)整多個(gè)ADC的采樣時(shí)序/相位，并對(duì)其進(jìn)行重新對(duì)齊以支持實(shí)時(shí)測(cè)量校正。 ADC的鏈同步功能使該4通道系統(tǒng)可以擴(kuò)展到8、12、16或更多通道系統(tǒng)。

具有CPS的獨(dú)特四通道ADC（EV12AQ605和EV10AQ190)添加了自動(dòng)校準(zhǔn)測(cè)試和測(cè)量功能，用于5G NR ATE系統(tǒng)和電信設(shè)備的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試

EV12AQ605是一個(gè)四通道12位1.6 Gsps ADC。內(nèi)置交叉點(diǎn)開關(guān)（CPS）可以切換多種工作模式，從而交織4個(gè)獨(dú)立的內(nèi)核以實(shí)現(xiàn)更高的采樣率。在4通道工作模式下，這4個(gè)內(nèi)核可以以1.6 Gsps的采樣率對(duì)4個(gè)獨(dú)立的輸入進(jìn)行同相采樣。在2通道工作模式下，內(nèi)核可以成對(duì)交錯(cuò)，以實(shí)現(xiàn)每個(gè)輸入3.的2 Gsps采樣率。在1通道模式下，單個(gè)輸入連接到交錯(cuò)的4個(gè)內(nèi)核，以實(shí)現(xiàn)6.4 Gsps的采樣率。這種高度的靈活性使用戶可以在3.2 GHz的瞬時(shí)帶寬內(nèi)實(shí)現(xiàn)RF（和IF）數(shù)字化。 EV12AQ605的擴(kuò)展輸入帶寬超過(guò)6 GHz（EFPBW），從而允許直接對(duì)C波段（4-8 GHz）信號(hào)進(jìn)行采樣，而無(wú)需下變頻器將信號(hào)轉(zhuǎn)換為基帶。該ADC包含多個(gè)ADC鏈同步功能，可用于設(shè)計(jì)多通道系統(tǒng)。它的封裝是采用HiTCE玻璃陶瓷材料的非密封倒裝芯片封裝，可以優(yōu)化RF性能并支持更高的引腳密度。

圖9：EV12AQ605框圖

與本文主題相關(guān)的重要性能指標(biāo)是通道間隔離或串?dāng)_。較大的串?dāng)_會(huì)給ADC增加額外的誤差并影響結(jié)果。可以通過(guò)類似于其他噪聲源的自動(dòng)校準(zhǔn)過(guò)程來(lái)糾正此錯(cuò)誤。圖10顯示EV12AQ605具有世界領(lǐng)先的串?dāng)_性能，并且它引入的額外噪聲影響很小。

圖10：EV12AQ605的串?dāng)_性能

EV10AQ190與早期的10位ADC類似，它還集成了交叉點(diǎn)開關(guān)。請(qǐng)參閱下表以了解兩者的性能概述：

結(jié)論

隨著5G NR網(wǎng)絡(luò)在世界范圍內(nèi)的普及，高頻設(shè)備的自動(dòng)/校準(zhǔn)高速測(cè)量成為一個(gè)關(guān)鍵問(wèn)題。校準(zhǔn)，可重復(fù)性和測(cè)量值之間的相關(guān)性是5G NR ATE和現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試系統(tǒng)面臨的巨大挑戰(zhàn)。這些問(wèn)題與整體測(cè)試速度和吞吐量直接相關(guān)，并影響解決方案的效率和性能。 Teledyne e2v的四通道多輸入端口ADC使用非并行的片上高頻交叉點(diǎn)開關(guān)輸入電路技術(shù)來(lái)為5G NR ATE和/或設(shè)備（單端口或多端口）測(cè)試提供自動(dòng)校準(zhǔn)和測(cè)量現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試環(huán)境解決方案。