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軍事自動測試設備的現(xiàn)狀與發(fā)展_電子/電路_工程技術_專業(yè)數(shù)據(jù)

發(fā)布日期: 2021-01-10 點擊: 524

軍事自動測試設備的現(xiàn)狀與發(fā)展_電子/電路_工程技術_專業(yè)數(shù)據(jù)

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2003年3月2日問題CHINA ME撕開了RD肛門硼M,例如QOLOGY China Testing Technology NO。 3月2日2003年《軍事自動測試設備王劍的現(xiàn)狀與發(fā)展》(北京639221部隊,100094)摘要)本文介紹了軍事自動測試設備在國內外的一般應用,并展望了軍事自動測試的未來發(fā)展趨勢。技術基于GPIO(IEEE 488標準)和CAMAC總線(IEEE 583標準)的半自動和自動測試階段,與以前的專用L腳相比?骨蒯勰_E 11簡介采用后的設備比較GPIO總線和CAMAC總線,武器系統(tǒng)測試設備向標準化,模塊化,通用系統(tǒng)邁出了一大步,提高了設備??的重復利用率;避免了重復開發(fā)各種型號或不同批次的測試設備相同的模型,減少了設備投資,技術上實現(xiàn)了相互溝通和繼承,實現(xiàn)了成果共享和設備通用性。采用。因此,縮短了開發(fā)周期,節(jié)省了人力和資金,被稱為第二代軍事測試系統(tǒng)。但是,GPIB總線和CA-MAC總線是致命的。 GPIB的缺點,例如傳輸距離有限和傳輸速度低; CA / g_AC的24位數(shù)據(jù)寬度與當前流行的8位,16位和32位微處理器不匹配。主要儀器制造商沒有提供支持,并且缺少模塊化產品,高故障率和其他問題。

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在1990年代初,隨著VXI總線的逐漸普及自動測量設備,我國的軍事自動測試設備越來越多地采用了VXI總線,這被稱為第一個軍事測試系統(tǒng)。 VXI總線解決了高效率,高可靠性和高性能的問題。它最顯著的功能是開放標準。標準化使測試系統(tǒng)靈活,開發(fā)周期短,維護方便。儀器系統(tǒng)已經從離散的桌面和機架安裝結構演變?yōu)楦o湊,工作更快速的模塊化結構。開放性使得VXI儀器廣泛使用計算機軟件成果,確保了模塊級和系統(tǒng)級的兼容性,以及軟硬件標準的程度更高。第三代自動測試系統(tǒng)非常適合現(xiàn)場環(huán)境應用。特別適用于軍事測試系統(tǒng)。我國現(xiàn)在擁有從VXI機箱和控制器到各種類型的通用和專用儀器模塊的全方位產品。由航天測量與控制公司(II)建立的全國通用武器模型測試系統(tǒng)使我國的VXI總線在軍事自動測試設備上的應用達到了新的高度。經過三十多年的發(fā)展,我國的檢測水平取得了巨大的成就。目前,我國電子測量儀器的生產規(guī)模和生產能力僅次于美國,日本,英國,德國和法國,位居世界第六。但是這些測試儀器主要是中低端儀器。在可靠性指標上,國內測試儀器的可靠性指標一般在3,000小時左右,而國外的一般在10,000小時以上,平均無故障工作時間在20,000至30,000小時。

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總體而言,家用測試設備的可測試性是一項設計功能,直接影響系統(tǒng)的可維護性,可靠性,安全性和武器壽命。在當今高度發(fā)展的科學技術中,武器系統(tǒng)的復雜性越來越高,傳統(tǒng)的手動檢查和維護方法已不能滿足現(xiàn)代武器系統(tǒng)支持的要求。在這種背景下,軍事自動測試設備(Automatic‰tillg Equipment)應運而生,各國都在研究上投入了大量的金錢和人力。據(jù)報道,目前的測試成本已經達到了開發(fā)設備成本的50%,有的甚至達到了70%,準備測試程序所花費的時間比系統(tǒng)設計所花費的時間要長得多。軍事測試設備將與現(xiàn)代武器系統(tǒng)的設計和制造形成一體,成為武器系統(tǒng)可靠運行的必要保證。本文介紹和總結了國內外自動測試設備的發(fā)展,并根據(jù)高科技條件下的信息戰(zhàn)特點和先進武器裝備的需求,分析了下一代軍事測試設備的發(fā)展方向。軍事測試設備。 2國內外發(fā)展現(xiàn)狀2.1國內發(fā)展現(xiàn)狀1970年代以前,我國軍用試驗設備的自動化程度很低自動測量設備,主要是人工操作,是針對一定條件專門設計制造的。測試目的。用于其他目的,稱為第一代軍事測試系統(tǒng)。其特點是:測試時間長,結果難以重復,錯誤難以發(fā)現(xiàn)。

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除了導彈,衛(wèi)星,飛機,輪船和其他武器的復雜技術外,測試還很困難,而且批次很多。每批產品的技術狀態(tài)和指標均不同。測試設備適用于特定型號和系列。不兼容,不可互操作。為了滿足不同類型和批次的武器測試需求,必須重新開發(fā)測試設備,因此在測試設備上的投資巨大。在1970年代末和1980年代初,我國的軍事自動測試設備被轉移到“王健,男。 1975年生,研究生。工程師,主要研究方向:武器性能測試與故障診斷,有毒技術與農業(yè)存儲,外部me足建模,晃浩技術與國外測試設備相比萬方數(shù)據(jù)萬方數(shù)據(jù)

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